LogicVisionは大規模化・高集積化するSocのテスト設計からシリコンデバッグ、製造テストに至るフローを効率よく実行するためのソフトウェアツール群、チップに埋め込むIP、デバックステーションハードウェア、さらにはテスト関連エンジニアリングサービスを総合的に供給しています。LogicVisionのソリューションの総称が“Embedded Test” です。

ETLogic

クロックドメイン数および周波数に依存しない真の実速度テストを実現するIPを自動で生成、組み込む製品です

• ETLogic Core　フラットデザインへのBIST挿入を実現
• ETLogic Flat　階層別にBIST挿入を実現することにより、大規模デザインへの対応が容易化

ETMemory

組み込みメモリの実速度テストを実現するIPを自動で生成し、組み込む製品です

• ETMemory-Hard Program ユーザ独自のアルゴリズムをハードウェアとして提供
• ETMemory-Soft Program チップ製造後に、ユーザ独自のアルゴリズムを自由に実現
• ETmemory-Repair Analysis(Row & Column) 冗長ブロック付のメモリに対し、テスト終了後にリペア用の情報を即時に提供
• ETMemory-Build in Self Repair LV社のIPが生成したリペア情報を元に、チップ内での自動リペアを提供

ETSerdes

高速作動シリアルインターフェース用のテストIPを自動で生成し、組み込む製品です

ETBoundary

IEEE1149.9に準拠したJTAG機能を実現するIPを自動生成し、組み込む製品であり、BSDLファイルも自動生成いたします

ETA(Embedded Test Access)

LV社のIPが組み込まれたチップの実速度診断を、GUIを用いたインタラクティブな実行環境で提供いたします。

複雑なSoCに対してテスト回路を自動挿入

メモリーとロジックへのアットスピードテスト・診断機能

ボードやシステムレベルでも製造工程と同様のテストを実現

インターネットもしくは無線によるリモート診断機能

Easy Cluster 製品群

• EasyCTC : Cluster 制御管理
• EasyGEM : ホストコミュニケーション管理
• EasyRCS : リモートコントロール管理
• EasyEES : 装置データ収集、モニタリング管理(SECS2/GEM/HSMS, EVENT/ALARM/FDC/RMS)
• EasySPC : Statistical Process Control 管理システム
• EasyEDA : 装置データ収集、トレース管理システム(SOAP/XML, Trace)
• EasyTMC : 搬送モジュール管理システム
• EasyPMC : プロセスモジュール管理システム